Contribution of the grain-boundary and surface scattering of conductivity electrons to the size effect of tensosensibility
Electronic Archive of Sumy State University
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Contribution of the grain-boundary and surface scattering of conductivity electrons to the size effect of tensosensibility
|
|
Creator |
Lasiuchenko, Olena Borysivna
Protsenko, Ivan Yukhymovych Chornous, Anatolii Mykolaiovych Ласюченко, Олена Борисівна Ласюченко, Елена Борисовна Проценко, Іван Юхимович Проценко, Иван Ефимович Чорноус, Анатолій Миколайович |
|
Subject |
grain-boundary scattering
surface scattering size effect of tensosensibility зернограничне розсіювання поверхневе розсіювання розмірний ефект тензочутливості зернограничное рассеивание поверхностное рассеивание размерный эффект тензочувствительности |
|
Description |
Theoretical relations have been obtained allowing to estimate the contribution of volume, surface and grain boundary scattering electrons of conductivity to the longitudinal tensosensibility coefficient of metal films. These contributions can be additively presented as у = C1Y0l + C2Ygbl + C3ydl where C1-C3 are the statistical weights of individual components. The relationships derived have been proven taking Cr, Co, Ni and Cu thin films as examples.
Одержано теоретичні співвідношення, які дозволяють оцінити вклад об`ємного, поверхневого і зернограничного розсіювання електронів провідності у величину коефіцієнту повздовжньої тензочутливості металевих плівок. Показано, що ці внески можна представити адитивно таким чином y = C1уol + С2ygbl + С3ydl, де С1-С3 - статистична вага окремих доданків. Одержані співвідношення були апробовані на прикладі тонких плівок Cr, Co, Ni і Cu. // Русск. версия: Получены теоретические соотношения, позволяющие оценить вклад объемного, поверхностного и зернограничного рассеивания электронов проводимости в величину коэффициента продольной тензочувствительности металлических пленок. Показано, что эти вклады можно представить аддитивно таким образом: y = C1y0l + C2ygbl + C3ydl, где С1—С3 - статистический вес отдельных слагаемых. Полученные соотношения апробированы на примере тонких пленок Cr, Со, Ni и Cu. |
|
Publisher |
Institute for Single Crystals
|
|
Contributor |
Чорноус, Анатолий Николаевич
|
|
Date |
2010-12-20T10:01:18Z
2010-12-20T10:01:18Z 1999 |
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Lasyuchenko, O.B. Contribution of the grain-boundary and surface scattering of conductivity electrons to the size effect of tensosensibility [Text] / O.B. Lasyuchenko, I.Yu. Protsenko, A.M. Chornous // Functional Materials 6, №. 5, 880-883 (1999).
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/709 |
|
Language |
en
|
|