Тензорезистивный эффект в тонких пленках Cr, Ni, Cr/Ni и Ge
Electronic Archive of Sumy State University
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Тензорезистивный эффект в тонких пленках Cr, Ni, Cr/Ni и Ge
|
|
| Creator |
Проценко, Иван Ефимович
Однодворец, Лариса Валентиновна Чорноус, Анатолий Николаевич Однодворець, Лариса Валентинівна Odnodvorets, Larysa Valentynivna Chornous, Anatolii Mykolaiovych Чорноус, Анатолій Миколайович Проценко, Іван Юхимович Protsenko, Ivan Yukhymovych |
|
| Subject |
коэффициент тензочувствительности
деформация сжатия и растяжения коефіцієнт тензочутливості деформація на розтяг і стиснення coefficient of tensosensibility deformation of tension and compression |
|
| Description |
Изучен тензорезистивный эффект в поликристаллических (Cr, Ni, Cr/Ni), аморфных и высокодисперсных (Ge) пленках в условиях деформации на растяжение и сжатие. Симметричный характер деформационной зависимости для исследованных пленок можно объяснить в терминах изменения концентрации носителей электрического тока (в случае Cr, Ni, Cr/Ni и a-Ge) и ширины запрещенной зоны (в случае a-Ge). // Укр. версія: Вивчено тензорезистивний ефект в полікристалічних (Cr, Ni, Cr/Ni), аморфних та високодисперсних (Ge) плівках в умовах деформації на розтяг і стиснення. Симетричний характер деформаційної залежності для досліджених плівок можна пояснити зміною концентрації носіїв електричного струму (у випадку Cr, Ni, Cr/Ni та a-Ge) та ширини забороненої зони (у випадку a-Ge).
The tension resistive effect in polyctystalline (Cr, Ni, Cr/Ni), amorphous, and high-dispersed (Ge) films under deformation conditions of tension and compression is investigated. The symmetric character of deformation dependence for such films may be explained by the change of electric current carriers` concentration (for the Cr, Ni, Cr/Ni, and a-Ge films) or forbidden band gap (for the a-Ge film). |
|
| Date |
2010-12-21T15:16:30Z
2010-12-21T15:16:30Z 1996 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Проценко, И.Е. Тензорезистивный эффект в тонких пленках Cr, Ni, Cr/Ni и Ge [Текст] / И.E. Проценко, Л.В. Однодворец, А.Н. Чорноус // Металлофизика и новейшие технологии. - 1996. - Т. 18, №12. - С. 61-64.
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/1004 |
|
| Language |
ru
|
|