Investigation of nanostructured silicon surfaces using fractal analysis
DSpace at ONEU
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Investigation of nanostructured silicon surfaces using fractal analysis
Дослідження наноструктурованої поверхні кремнію методами фрактального аналізу Исследование наноструктурированной поверхности кремния методами фрактального анализа |
|
| Creator |
Kulinich, O.
Кулініч, О.А. Кулинич, О.А. |
|
| Subject |
nanostructured silicon
fractal analysis наноструктурований кремній фрактальний аналіз наноструктурированный кремний фрактальный анализ |
|
| Description |
Fractal analysis was applied to images of nanostructured silicon surfaces which were acquired with a scanning electron microscope. A fractal model describing nanostructured silicon surfaces morphology is elaborated. It were obtained the numerical results for the fractal dimensions for 2 samples with different nanostructured shapes.
Фрактальний аналіз був застосований для дослідження електронних зображень наноструктурованих поверхонь кремнію, визначення їх морфологічних особливостей. Були отримані значення фрактальної розмірності для двох зразків з різною формою наноструктуровання. Фрактальный анализ был применен для исследования электронных изображений наноструктурированных поверхностей кремния, определения их морфологических особенностей. Были получены значения фрактальной размерности для двух образцов с различной формой наноструктурирования. |
|
| Date |
2014-11-11T12:24:26Z
2014-11-11T12:24:26Z 2011 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Kulinich O. Investigation of nanostructured silicon surfaces using fractal analysis / O. Kulinich, V. Smyntyna, I. Iatsunskyi and other // Фотоэлектроника. – 2011. - № 20. - С. 63-66.
http://dspace.oneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2562 |
|
| Language |
en
|
|