Запис Детальніше

Влияние зазора зонд — образец в сканирующей микроволновой микроскопии

Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Creator Гордиенко, Ю. Е.
Ларкин, С. Ю.
Чхотуа, М. С. Е.
 
Date 2012-11-08T12:42:45Z
2012-11-08T12:42:45Z
2012
 
Identifier Гордиенко, Ю. Е. Влияние зазора зонд — образец в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, М. С. Е. Чхотуа // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии : материалы 22-й Междунар. Крымской конф. (КрыМиКо'2012), 10-14 сент. 2012 г. - Севастополь : Вебер, 2012. - Т. 2. - С. 623-624.
http://hdl.handle.net/123456789/346
 
Description В докладе приводятся полученные путем
численных исследований зависимости распределения СВЧ поля вдоль оси системы зонд-зазор-объект для конусного
коаксиального резонаторного зонда от величины зазора. А также даны зависимости от зазора фундаментальных сигналов сканирования. В совокупности эти результаты представляют основу для комплексных оценок влияния зазора на функционирование СММ и проектирования алгоритмов реконструкции изображений в широком диапазоне значений
электрофизических параметров объектов.
 
Language ru
 
Publisher Вебер
 
Subject конусный коаксиальный резонаторный зонд
сканирующая микроволновая микроскопия
сканирующая туннельная микроскопия
СВЧ-техника
телекоммуникационные технологии
 
Title Влияние зазора зонд — образец в сканирующей микроволновой микроскопии
 
Type doclad