Аналитическое приближение измерительных зависимостей резонаторных зондов для сканирующей микроволновой микроскопии
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Creator |
Гордиенко, Ю. Е.
Ларкин, С. Ю. Проказа, А. М. |
|
| Date |
2012-11-08T13:20:58Z
2012-11-08T13:20:58Z 2012 |
|
| Identifier |
Гордиенко, Ю. Е. Аналитическое приближение измерительных зависимостей резонаторных зондов для сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, А. М. Проказа // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии : материалы 22-й Междунар. Крымской конф. (КрыМиКо'2012), 10-14 сент. 2012 г. - Севастополь : Вебер, 2012. - Т. 2. - С. 625-626.
http://hdl.handle.net/123456789/347 |
|
| Description |
Исследованы характеристики преобразования резонаторных зондов с коаксиальной измерительной апертурой. Вычислительная практика показывает, что процедура их численных оценок требует особого внимания, что порождает особые требования по обеспечению адекватности моделирования. Таким образом, в работе рассмотрены возможности придания аналитических аппроксимаций данным метрологических зависимостей в теории СММ, полученным прямыми численными методами решения электро- динамических задач в строгой постановке. |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Вебер
|
|
| Subject |
СВЧ-техника
телекоммуникационные технологии резонаторные зонды сканирующая микроволновая микроскопия сканирование реконструкции изображений |
|
| Title |
Аналитическое приближение измерительных зависимостей резонаторных зондов для сканирующей микроволновой микроскопии
|
|
| Type |
doclad
|
|