Запис Детальніше

Використання надшвидкого потенціостата в сучасній наноаналітиці

Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Creator Сніжко, Д. В.
Рожицький, М. М.
 
Date 2012-11-19T11:50:58Z
2012-11-19T11:50:58Z
2012
 
Identifier Сніжко, Д.В. Використання надшвидкого потенціостата в сучасній наноаналітиці / Д. В. Сніжко, М. М. Рожицький // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. V Междунар. науч. конф., 30 сент. – 5 окт. 2012 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2012. – С. 189–192.
http://hdl.handle.net/123456789/373
 
Description Кінець XX ст. пов’язано з розробкою нових методів дослідження властивостей та реконструкції поверхонь, що базуються на принципах скануючої мікроскопії. Особливе місце займають таки мікроскопічні методи як скануючий електрохімічний мікроскоп [1] та скануючий інтерфейсний хімічний мікроскоп [2], що є вельми цікавими, оскільки дозволяють досліджувати характеристики поверхні та іі топографію в електрохімічних показниках, тобто здатності до участі у електрохімічних процесах, що відбуваються на її поверхні, проводити дослідження у рідких середовищах, що є, наприклад, принциповим для дослідження живих біологічних клітин.
 
Language uk
 
Publisher ХНУРЭ
 
Subject наноелектроніка
потенціостат
наноаналітика
біомедична електроніка
 
Title Використання надшвидкого потенціостата в сучасній наноаналітиці
 
Type Article