Алгоритм трехмерной реконструкции электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопии
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Creator |
Гордиенко, Ю. Е.
Ларкин, С. Ю. Мельник, С. И. Слипченко, Н. И. |
|
| Date |
2012-12-14T10:12:00Z
2012-12-14T10:12:00Z 2011 |
|
| Identifier |
Гордиенко, Ю. Е. Алгоритм трехмерной реконструкции электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, С. И. Мельник, Н. И. Слипченко // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 156–159.
http://hdl.handle.net/123456789/492 |
|
| Description |
The microwave tomography method is proposed, based on the separation of the reconstruction algorithm of scan results into three independent phase and layered reconstruction required distributions. Generalisation of 3-d reconstruction algorithm in case. Методы сканирующей зондовой микроскопии уже давно стали одним из основных средств исследований микро и наноструктур в различных областях науки и техники. Одним из таких методов является микроволновая сканирующая микроскопия (МСМ). К настоящему времени разработаны как различные микроволновые приставки к атомно-силовому микроскопу, так и серийный микроволновой микроскоп. В настоящей работе мы обобщим полученный нами ранее алоритм реконструкции распределения электрофизических свойств в методе МСМ на трехмерную задачу. |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
ХНУРЭ
|
|
| Subject |
наноэлектроника
зондовая микроскопия микроволновая микроскопия медицинская техника |
|
| Title |
Алгоритм трехмерной реконструкции электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопии
|
|
| Type |
Article
|
|