Вопросы обработки первичных данных при ближнеполевой микроволновой микроскопии полупроводников
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Creator |
Гордиенко, Ю. Е.
Ларкин, С. Ю. Сорока, А. С. |
|
| Date |
2012-12-17T12:13:37Z
2012-12-17T12:13:37Z 2011 |
|
| Identifier |
Гордиенко, Ю. Е. Вопросы обработки первичных данных при ближнеполевой микроволновой микроскопии полупроводников / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, А. С. Сорока // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 264–267.
http://hdl.handle.net/123456789/564 |
|
| Description |
e-mail: mepu@kture.kharkov.ua In the report the analysis of the basic problems of processing of the primary measuring information in scanning microwave near field microscopy of semiconductors is presented and features of construction of radio images of samples are considered. Цель данной работы: анализ основных проблем обработки первичной изме-рительной информации в ближнеполевой сканирующей микроскопии полупроводников и выработка эффективных алгоритмов получения изображений образцов. |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
ХНУРЭ
|
|
| Subject |
наноэлектроника
микроволновая микроскопия медицинская техника |
|
| Title |
Вопросы обработки первичных данных при ближнеполевой микроволновой микроскопии полупроводников
|
|
| Type |
Article
|
|