Исследование статистических свойств параметров однотипных элементов
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Creator |
Кобзев, В. Г.
|
|
Date |
2012-12-17T12:55:37Z
2012-12-17T12:55:37Z 2011 |
|
Identifier |
Кобзев, В. Г. Исследование статистических свойств параметров однотипных элементов / В. Г. Кобзев // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 279–281.
http://hdl.handle.net/123456789/570 |
|
Description |
The likelihood boarders between order statistics distributions are introduced. These boarders are not depended from observed casual value’s distribution kind and equal to there quantiles.Целью данной работы является исследование свойств распределений порядковых статистик непрерывных случайных величин для конечных объемов анализируемых данных и выработка рекомендаций для их использования при обработке наборов параметров однотипных элементов фиксированной длины.
|
|
Language |
ru
|
|
Publisher |
ХНУРЭ
|
|
Subject |
наноэлектроника
статистические свойства параметров порядковые статистики |
|
Title |
Исследование статистических свойств параметров однотипных элементов
|
|
Type |
Article
|
|