Запис Детальніше

Количественный анализ разрешающей способности зондовой сканирующей микроволновой микроскопии

Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Creator Гордиенко, Ю. Е.
Ларкин, С. Ю.
Шиян, О. П.
 
Date 2014-09-18T11:40:58Z
2014-09-18T11:40:58Z
2012
 
Identifier Гордиенко, Ю. Е. Количественный анализ разрешающей способности зондовой сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, О. П. Шиян // Прикладная радиоэлектроника : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 2012. – Т. 11, № 3. – С. 426–430.
http://hdl.handle.net/123456789/1328
 
Description В работе приводятся результаты численного исследования зависимости распределения ближнего поля резонаторных зондов в сканирующей микроволновой микроскопии от размера острия зонда и влияния этого параметра на величину сигналов сканирования. Полученные результаты позволяют сделать вывод о том, что пространственная разреша-ющая способность и контрастность микроскопии с использованием указанных зондов практи-чески линейно зависят от радиуса острия. Это
упрощает решение проблемы одновременного повышения контрастности и разрешающей способ-
ности сканирующей микроволновой микроскопии. The paper gives results of numerical study of dependence distribution of the near field of resonator probes in scanning microwave microscopy (SMM) on the size of a
probe tip and influence of this parameter on the value of scanning signals. The results obtained allow to make a conclusion
that the spatial resolution and microscopy contrast with the use of the said probes are almost linearly dependent on the tip radius. This simplities the solution of the problem
of simultaneous contrast enhancement and SMM resolution.
 
Language ru
 
Publisher ХНУРЭ
 
Subject зондовая сканирующая микроволновая микроскопия (ЗСММ)
резонаторный зонд
пространственная разрешающая способность (ПРС)
scanning probe microwave microscopy
resonator probe
spatial resolution
 
Title Количественный анализ разрешающей способности зондовой сканирующей микроволновой микроскопии
 
Type Article