Информационный метод повышения разрешающей способности в СКВИД-микроскопии
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Creator |
Мельник, С. И.
Слипченко, Н. И. |
|
| Date |
2014-12-09T13:19:57Z
2014-12-09T13:19:57Z 2014 |
|
| Identifier |
Мельник, С. И. Информационный метод повышения разрешающей способности в СКВИД-микроскопии / С. И. Мельник, Н. И. Слипченко // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии : материалы 24-й Междунар. Крымской конф. (КрыМиКо'2014), 7-13 сент. 2014 г. - Севастополь : Вебер, 2014. - Т. 2. - С. 767-768.
http://hdl.handle.net/123456789/1706 |
|
| Description |
Проблема обеспечения низких температур в области СКВИД-датчика при комнатной температуре образца не позволяет уменьшить расстояние между ними. Это приводит к размытию полученного изображения и снижению разрешающей способности микроскопа. Стандартные методы обратной свертки позволяют улучшить разрешающую способность СКВИД-микроскоп до 20 раз, однако они не оптимальны относительно имеющейся априорной информации. Использование предложенного нами информационно-алгебраического алгоритма позволяет избежать этих потерь и дополнитель-но улучшить разрешающую способность СКВИД-микроскопа до 10 раз. Кроме того, этот метод позволяет уточнить или реконструировать не точно заданные параметры датчика. The problem of low temperatures in the SQUID sensor at room temperature of the sample does not allow reducing the distance between them. This leads to a smearing of the image and reducing the resulting resolution of the microscope. Standard methods for decon-volution can improve the resolution of the SQUID microscope up to 20 times, but they are not optimal with respect to the information available a priori. We used information-algebraic algorithm to avoid these losses. This allows improving the resolution of the SQUID microscope even up to 10 times. In addition, this method allows refining or reconstructing not exactly set parameters of the sensor. |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Вебер
|
|
| Subject |
СКВИД-датчик
разрешающая способность СКВИД-микроскопа |
|
| Title |
Информационный метод повышения разрешающей способности в СКВИД-микроскопии
|
|
| Type |
Article
|
|