Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Creator |
Арсеничев, С. П.
Бендеберя, Г. Н. Григорьев, Е. В. Зуев, С. А. Слипченко, Н. И. Старостенко, В. В. Таран, Е. П. |
|
| Date |
2015-06-11T12:25:05Z
2015-06-11T12:25:05Z 2013 |
|
| Identifier |
Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе / С. П. Арсеничев и др. // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Харьков, 2013. – Вып. 175. – С. 82 – 88.
http://hdl.handle.net/123456789/2128 |
|
| Description |
Широкие возможности изучения структуры, свойств и характеристик тонких пленок появились сравнительно недавно – с появлением микроскопии, обеспечивающей нанометровое разрешение, с использованием современной измерительной аппаратуры. Поглощение электромагнитных волн в тонких пленках объясняется их рассеянием в кристаллитах структуры с преобразованием в акустические волны [1]. При этом под тонкими понимаются пленки, толщина которых много меньше скин-слоя и соизмерима с длиной свободного пробега электронов (пленки толщиной менее 50 нм)
|
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
ХНУРЭ
|
|
| Subject |
тонкие пленки
микроскопия нанометровое разрешение |
|
| Title |
Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе
|
|
| Type |
Article
|
|