Стійкість омічних контактів до напівпровідникових епітаксійних плівок n-InN під дією деградаційних факторів
Zhytomyr State University Library
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Relation |
http://eprints.zu.edu.ua/18889/
|
|
| Title |
Стійкість омічних контактів до напівпровідникових епітаксійних плівок n-InN під дією деградаційних факторів
|
|
| Creator |
Сай, Павло
Ткаченко, О. К. |
|
| Subject |
QC Physics
|
|
| Description |
Магістерська робота
|
|
| Date |
2015
|
|
| Type |
Article
PeerReviewed |
|
| Format |
text
|
|
| Language |
uk
ukraine |
|
| Identifier |
http://eprints.zu.edu.ua/18889/1/%D0%BC%D0%B0%D0%B3%D1%96%D1%81%D1%82%D0%B5%D1%80%D1%81%D1%8C%D0%BA%D0%B0%20%D0%A1%D0%B0%D0%B9.pdf
Сай, Павло and Ткаченко, О. К. (2015) Стійкість омічних контактів до напівпровідникових епітаксійних плівок n-InN під дією деградаційних факторів. Науковий пошук молодих дослідників. |
|