Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації smc* фази у рідкому кристалі
Репозиторій ВНАУ
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації smc* фази у рідкому кристалі
|
|
Creator |
Шевчук О.Ф.
|
|
Subject |
Статті
2015 р./ Публікації співробітників у виданнях інших установ/ |
|
Description |
Показано, що діелектрична спектроскопія сегнетолектричного рідкого кристалу (СЕРК) дозволяє встановити наявність SmC* фази, як у чистому СЕРК, так і при наявності домішки. Відзначено, що основними характеристиками SmC* фази є наявність відповідного релаксацийного процесу та стрибка провідності при зменшенні температури. |
|
Date |
2015-11-30
2015-11-30 2015 |
|
Type |
—
|
|
Identifier |
http://repository.vsau.org/getfile/9622
|
|
Language |
uk_UA
|
|
Relation |
http://repository.vsau.org/card.php?id=9622
|
|