Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі
Електронний архів КНУТД
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі
|
|
| Creator |
Шевчук, О. Ф.
|
|
| Subject |
сегнетоелектричний рідкий кристал
діелектрична проникність діелектрична спектроскопія SmC* фаза сегнетоэлектрических жидкий кристалл диэлектрическая проницаемость диэлектрическая спектроскопия SmC* фаза liquid crystal permittivity dielectric spectroscopy SmC* phase |
|
| Description |
Запропонувати методи встановлення наявності SmC* фази сегенето-електричного рідкого кристалу (чистого і допованого наночастинками). Діелектрична спектроскопія. Аналіз частотних залежностей компонент комплексної діелектричної проникності та температурної залежності провідності при змінному струмі. Показано, що діелектрична спектроскопія сегнетолектричного рідкого кристалу (СЕРК) дозволяє встановити наявність SmC* фази, як у чистому СЕРК, так і при наявності домішки. Відзначено, що основними характеристиками SmC* фази є наявність відповідного релаксацийного процесу та стрибка провідності при зменшенні температури. Показано, що комплексний аналіз діелектричного спектру та температурної залежності провідності дає можливість однозначно встановити наявність SmC* фази чистого СЕРК і при наявності домішок. Розроблено ефективну і просту в реалізації методику визначення наявності сегнетоелектричної SmC* фази в чистих рідких кристалах та при наявності домішки.
|
|
| Date |
2016-02-08T13:09:09Z
2016-02-08T13:09:09Z 2015 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Шевчук О. Ф. Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі / О. Ф. Шевчук // Вісник Київського національного університету технологій та дизайну. Серія "Технічні науки". - 2015. - № 5 (90). - C. 226-232.
http://er.knutd.com.ua/handle/123456789/625 |
|
| Language |
uk
|
|