Розробка методів та засобів визначення показників заломлення оптоелектронних елементів у діапазоні довжин хвиль 400нм÷10мм
Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Розробка методів та засобів визначення показників заломлення оптоелектронних елементів у діапазоні довжин хвиль 400нм÷10мм
Разработка методов и средств определения показателей преломления оптоэлектронных элементов в диапазоне длин волн 400нм÷10мм Development of methods and tools for determining refractive indices of optoelectronic elements in the wavelength range 400nm÷10mm |
|
| Creator |
Андрущак, Назарій Анатолійович
|
|
| Subject |
інтерферометрично-поворотний метод
показник заломлення плоско-паралельні і клиноподібні оптоелектронні елементи міліметрові хвилі интерферометрический поворотный метод показатель преломления плоскопараллельные и клиновидные оптоэлектронные элементы миллиметровые волны interferometer-rotating method refractive index plane-parallel and wedge-shaped optoelectronic elements millimeter waves |
|
| Description |
Роботу присвячено розробленню та апробації експериментальних методів і засобів для прецизійних експрес-вимірювань показників заломлення плоско-паралельних або клиноподібних елементів оптоелектронних пристроїв у діапазоні від видимого світла до міліметрових хвиль. Створено експериментальні установки, розроблено способи вимірювань і уточнено робочі співвідношення для визначення показників заломлення, які приймають до уваги заломлюючі властивості повітря як навколишнього середовища, де перебуває зразок, і відхилення його поверхонь від паралельності. Теоретично і експериментально оцінено похибки для різних спектральних діапазонів. Розроблено і апробовано новий спрощений метод вимірювань для субтерагерцового діапазону (50÷500 ГГц). Наявну базу даних для параметрів оптоелектронних матеріалів доповнено результатами, вперше одержаними за допомогою розроблених методів і засобів. Работа посвящена созданию и апробации экспериментальных методов и средств для прецизионных экспресс-измерений показателей преломления плоскопараллельных или клиновидных элементов оптоэлектронных устройств в диапазоне от видимого света до миллиметровых волн. Созданы экспериментальные установки, разработаны способы измерений и уточнены соотношения, принимающие во внимание преломляющие свойства воздуха как окружающей среды, где находится образец, а также отклонение его поверхностей от параллельности. Теоретически и экспериментально оценены погрешности для разных спектральных диапазонов. Разработан и апробирован новый упрощенный метод измерений для субтерагерцового диапазона (50÷500 ГГц). Существующая база данных для параметров оптоэлектронных материалов дополнена результатами, впервые полученными с помощью разработанных методов и средств. The dissertation is dedicated to creation and test of experimental methods and tools for precise express-measurements of refractive indices of plane-parallel or wedge-shaped elements of optoelectronic devices in the range from visible light to millimeter waves. Different types of experimental setups are created. For these setups, special measur-ing methods are developed and precise working formulas are derived that take into account the refractive properties of air as the environment in which a sample is located, as well as deviations of surfaces of that sample from parallelism. The regularities for changes in the optical path are found, which appear due to the inevitable uncontrolled non-parallel sur-faces or planned wedge-shaped samples. The analytical expressions for calculating refrac-tive indices of isotropic and anisotropic materials are derived, allowing to get rid of the corresponding systematic errors. The errors for the refractive index determination in different spectral ranges are evaluated both theoretically and experimentally. A simplified interferometric method for measuring refractive indices of optoelec-tronic elements in sub-Terahertz range (50÷500 GHz) is developed. This method is to build an interference minimum in the memory of vector network analyzer due to a linear shift of the electromagnetic radiation receiver, with subsequent measurement of this minimum shift by introducing a sample under test into the working channel, thus allowing to get rid of the reference channel and simplify the measurement process. The novel method for simplified measurements of refractive indices in the sub-Terahertz range is testified ex-perimentally and the data obtained show a good agreement when compared to the literature data. A software complex is developed allowing to control experiment procedures and da-ta processing in the frame of modern engineering environment LabVIEW which uses the equipment from “National Instruments”. Computer-controlled experiments carried out by us demonstrate both high accuracy of the measurements (4–5 and 2–3 decimal digits after period for the visible and millimeter wavelength ranges, respectively) and a possibility for express-analysis of optoelectronic elements under test (the time of a single measurement cycle not exceeding 5 min.).The methods and tools developed here make it possible to per-form non-destructive determination of the refractive indices for plane-parallel and wedge-shaped isotropic and anisotropic optoelectronic elements that are suitable for further usage in specific applications. For the first time the refractive indices of an optical glass, a crys-talline quartz, sapphire and an evlitine are determined in the millimeter-wave range. Fur-thermore, the values of the refractive indices of lithium niobate crystals and quartz are de-termined more precisely in the visible range. The databases of parameters of optoelectronic mate¬rials are enriched by the results obtained using the developed methods and tools. |
|
| Date |
2013-01-08T10:06:16Z
2013-01-08T10:06:16Z 2012 |
|
| Type |
Autoreferat
|
|
| Identifier |
Андрущак Н. А. Розробка методів та засобів визначення показників заломлення оптоелектронних елементів у діапазоні довжин хвиль 400нм÷10мм : автореферат дисертації на здобуття наукового ступеня кандидата технічних наук : 05.12.20 – оптоелектронні системи / Назарій Анатолійович Андрущак ; Національний університет “Львівська політехніка”. - Львів, 2012. - 18 с.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/16225 |
|
| Language |
ua
|
|
| Publisher |
Національний університет "Львівська політехніка"
|
|