Напруження в системах Si-SiO2 як причина утворення дефектів
Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Напруження в системах Si-SiO2 як причина утворення дефектів
|
|
| Creator |
Логуш, О. І.
Білинський, Ю. М. |
|
| Date |
2013-06-21T09:03:06Z
2013-06-21T09:03:06Z 2011 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Логуш О. І. Напруження в системах Si-SiO2 як причина утворення дефектів / О. І. Логуш, Ю. М. Білинський// Чотирнадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки Національного університету "Львівська політехніка" з проблем електроніки : тези доповідей, 5–7 квітня 2011 р., Львів / Міністерство освіти і науки, молоді та спорту України, Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 41.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/19941 |
|
| Language |
ua
|
|
| Publisher |
Видавництво Львівської політехніки
|
|