Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS
Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS
|
|
| Creator |
Совин, Я. Р.
Наконечний, Ю. М. Чінка, В. М. Тишик, І. Я. |
|
| Subject |
генератори випадкових чисел
тести NIST STS STM32F4xx random number generators NIST STS tests |
|
| Description |
Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Testing of hardware random number generator of microcontrollers STM32F4XX family with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of NIST STS. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators for cryptographic applications.
|
|
| Date |
2013-07-03T08:19:00Z
2013-07-03T08:19:00Z 2012 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, В. М. Чінка, І. Я. Тишик // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2012. – № 745 : Комп’ютерні системи та мережі. – С. 168–175. – Бібліографія: 10 назв.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20203 |
|
| Language |
ua
|
|
| Format |
application/pdf
|
|
| Publisher |
Видавництво Львівської політехніки
|
|