Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії
Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії
|
|
| Creator |
Гумінілович, Руслана
Шаповал, Павло Ятчишин, Йосип Кусьнеж, Віктор |
|
| Subject |
тонкі плівки
хімічне осадження інверсійна вольтамперометрія |
|
| Description |
Розроблена проста й швидка методика визначення товщини напівпровідникових тонких плівок кадмій сульфіду з використанням методу інверсійної вольтамперометрії. Отримані результати мають добру сходимість з результатами еліпсометричних вимірювань, які є загальноприйнятими длятакого виду досліджень.
|
|
| Date |
2013-06-26T14:34:17Z
2013-06-26T14:34:17Z 2011 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії / Руслана Гумінілович, Павло Шаповал, Йосип Ятчишин, Віктор Кусьнеж // Хімія та хімічні технології : матеріали ІI Міжнародної конференції молодих вчених CCT-2011, 24–26 листопада 2011 року, Україна, Львів / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 188–189. – (3-й Міжнародний молодіжний фестиваль науки "Litteris et Artibus"). – Бібліографія: 3 назви.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20118 |
|
| Language |
ua
|
|
| Format |
application/pdf
|
|
| Publisher |
Видавництво Львівської політехніки
|
|