Запис Детальніше

Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring

Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring
 
Creator Bobalo, Yuriy
Nedostup, Leonid
Kiselychnyk, Myroslav
Melen, Myhaylo
 
Subject production of electronic devices
modeling
defectiveness
reliability
 
Description This work is devoted to modeling and optimization of radio-electronic devices production processes to ensure the desired reliability.
 
Date 2013-12-24T14:57:37Z
2013-12-24T14:57:37Z
2011
 
Type Article
 
Identifier Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring / Yuriy Bobalo, Leonid Nedostup, Myroslav Kiselychnyk, Myhaylo Melen // Обчислювальні проблеми електротехніки : матеріали XII Міжнародного симпозіуму CPEE’2011, 5–7 вересня 2011 року, Кострино, Закарпатська область, Україна / Національний університет «Львівська політехніка», Варшавський технологічний університет, Лодзький технічний університет, Університет Західної Богемії. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 53. – Bibliography: 3 titles.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/22444
 
Language en
 
Format application/pdf
 
Publisher Видавництво Львівської політехніки