|
Поле |
Співвідношення |
|
Title |
Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring
|
|
Creator |
Bobalo, Yuriy
Nedostup, Leonid
Kiselychnyk, Myroslav
Melen, Myhaylo
|
|
Subject |
production of electronic devices
modeling
defectiveness
reliability
|
|
Description |
This work is devoted to modeling and optimization of radio-electronic devices production processes to ensure the desired reliability.
|
|
Date |
2013-12-24T14:57:37Z
2013-12-24T14:57:37Z
2011
|
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring / Yuriy Bobalo, Leonid Nedostup, Myroslav Kiselychnyk, Myhaylo Melen // Обчислювальні проблеми електротехніки : матеріали XII Міжнародного симпозіуму CPEE’2011, 5–7 вересня 2011 року, Кострино, Закарпатська область, Україна / Національний університет «Львівська політехніка», Варшавський технологічний університет, Лодзький технічний університет, Університет Західної Богемії. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 53. – Bibliography: 3 titles.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/22444
|
|
Language |
en
|
|
Format |
application/pdf
|
|
Publisher |
Видавництво Львівської політехніки
|
|