Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS
Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS
|
|
| Creator |
Совин, Я. Р.
Наконечний, Ю. М. Стахів, М. Ю. |
|
| Subject |
генератори випадкових чисел
тести NIST STS STM32F4xx random number generators NIST STS tests STM32F4xx |
|
| Description |
Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтро- лерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS за різних значень тактової частоти. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Testing of microcontroller’s hardware random number generator of family STM32F4XX with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of NIST STS at the different values of clock rate. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators in cryptographic applications. |
|
| Date |
2014-02-10T13:03:15Z
2014-02-10T13:03:15Z 2013 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Совин Я. Р. Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, М. Ю. Стахів // Автоматика, вимірювання та керування : [збірник наукових праць] / відповідальний редактор В. Б. Дудикевич. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2013. – C. 37–44. – (Вісник / Національний університет "Львівська політехніка" ; № 753). – Бібліографія: 10 назв.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/23316 |
|
| Language |
ua
|
|
| Publisher |
Видавництво Львівської політехніки
|
|