Рентгеновские методы анализа состава материалов
Цифровой репозитарии Национального технического университета "Харьковский политехнический институт" (eNTUKhPIIR)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Рентгеновские методы анализа состава материалов
|
|
| Creator |
Михайлов, Игорь Федорович
Батурин, Алексей Анатольевич Михайлов, Антон Игоревич |
|
| Subject |
рентгенофлуоресцентный анализ
рентгеноструктурный анализ комптоновское рассеяние рентгеновские спектрометры кристаллы-анализаторы многослойные рентгеновские зеркала схема Брэгга-Соллера монография monograph X-ray fluorescent analysis X-ray structure analysis Compton scattering X-ray spectrometer crystal-analyzers X-Ray multi-layer mirrors Bragg-Soller scheme |
|
| Description |
В монографии представлены комплексные методы рентгеновского анализа состава материалов, основанные на измерении интенсивности флуоресценции, рассеяния и дифракционных отражений. Предложен общий подход к оптимизации рентгеновских спектров по критерию предела обнаружения, который положен в основу разработки рентгенооптических схем. Представлены результаты исследований структуры и рентгенооптических характеристик новых кристаллов-анализаторов из фуллерита и многослойных рентгеновских зеркал. Книга может быть полезна для специалистов по рентгеновским исследованиям материалов, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
The monograph is devoted to complex X-ray methods for analysis of material composition based on measuring intensity of fluorescence, scattering and diffraction. A general approach is proposed to optimization of X-ray spectra by the criterion of detection limit which became a basis for development of X-ray optical schemes. The results of investigations for structure and X-ray optical characteristics of new crystal-analyzers made from fullerite and multi-layer X-ray mirrors are presented. The book may be useful for specialists on X-ray investigations of materials, as well as for students and post-graduate students of materials physics specialities. |
|
| Date |
2015-06-12T06:58:28Z
2015-06-12T06:58:28Z 2015 |
|
| Type |
Book chapter
|
|
| Identifier |
Михайлов И. Ф. Рентгеновские методы анализа состава материалов : монография [Аннотация] / И. Ф. Михайлов, А. А. Батурин, А. И. Михайлов. – Харьков : Изд-во "Підручник", 2015. – 204 с. [42 с.]
http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/15319 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Издательство "Підручник"
|
|