High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range
Цифровой репозитарии Национального технического университета "Харьковский политехнический институт" (eNTUKhPIIR)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range
|
|
| Creator |
Mikhailov, I. F.
Baturin, A. A. Bugaev, Ye. A. Mikhailov, A. I. Borisova, S. S. |
|
| Description |
Исследованы высокостабильные эталоны масс, полученные методом магнетронного осаждения сверхгладких слоев металлов на монокристаллические подложки. Тонкопленочные эталоны отвечают требованиям, предъявляемым ГОСТ 8.315-97 к государственным стандартным образцам: однородны, стабильны во времени и допускают аттестацию несколькими независимыми методами. Обеспечена точность измерений массы в диапазоне от 1 до 17 нг не хуже 1 нг, а в диапазоне от 17 до 3800 нг не хуже 8 нг.
|
|
| Date |
2015-06-22T09:24:34Z
2015-06-22T09:24:34Z 2013 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range / I. F. Mikhailov [et al.] // Functional Materials. – 2013. – Vol. 20, № 2. – p. 266-271.
http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/15460 |
|
| Language |
en
|
|
| Publisher |
Scientific and Technological Corporation "Institute for Single Crystals"
|
|