Анализ влияния внешних электромагнитных полей на работоспособность полупроводниковых приборов
Цифровой репозитарии Национального технического университета "Харьковский политехнический институт" (eNTUKhPIIR)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Анализ влияния внешних электромагнитных полей на работоспособность полупроводниковых приборов
|
|
| Creator |
Кравченко, Владимир Иванович
Серков, Александр Анатольевич Бреславец, Виталий Сергеевич Яковенко, Игорь Владимирович |
|
| Subject |
колебания
плазма сверхрешетки безстолкновительное угасание геликоны заряженные частицы поверхностные волны generation oscillations plasma semiconductor superlattices collisionless extinction |
|
| Description |
Проведен анализ влияния внешних электромагнитных полей на работоспособность полупроводниковых приборов. Определены механизмы возникновения неустойчивостей собственных колебаний полупроводниковых сверхрешеток, обусловленных их взаимодействием с потоками заряженных частиц в условиях влияния внешнего электромагнитного излучения. Показано, что влияние импульсного электромагнитного излучения сопровождается возникновением токов в проводящих элементах изделий и возникновением их внутренних полей. Разработан новый механизм появления поверхностных электронных состояний на неровной поверхности проводящих твердых тел. Исследовано влияние неоднородных свойств поверхностей проводящих твердых тел в излучающих структурах на спектральные характеристики переходного и черенковского излучения Разработана теория бесстолкновительного затухания поверхностных поляритонов в квантовом и классическом приближениях.
The influence of pulsed electromagnetic radiation on electric radio apparatus is often accompanied by currents arching on inner current – conducting elements as well as by the distortion of their internal fields have been determined. The development of theory of interaction of microwave electromagnetic oscillations and charged particles in bounded plasma-like media and the study of kinetic and hydrodynamic beam instabilities in solid–like structures applied in the present microwave electronics is proposed. The power losses of the flow of charged particles caused by such an interaction due to excitation of surface polaritons in the semiconductor superstructure have been determined. A new mechanism of initiation of surface at uneven of the conducting solid bodies is proposed. |
|
| Date |
2016-01-11T08:52:25Z
2016-01-11T08:52:25Z 2015 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Анализ влияния внешних электромагнитных полей на работоспособность полупроводниковых приборов / В. И. Кравченко [и др.] // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Техника и электрофизика высоких напряжений. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2015. – № 51 (1160). – С. 45-49.
http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/19105 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
НТУ "ХПИ"
|
|