Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці
Репозитарій Вінницького Національного Технічного Університету
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці
Sub-pixel scanning of image elements on the basis of photomatrix displacement Субпикселное сканирование элементов изображения на основе смещения фотоматрицы |
|
| Creator |
Білинський, Й. Й.
Тарасюк, О. Г. Білинський, В. Й. |
|
| Description |
Запропоновано метод визначення максимуму розподілення яскравості світлової плями із субпікселною точністю на основі зсуву багатоелементного фотоприймального пристрою. Проведено експериментальні дослідження, що підтверджують ефективність методу, а також дана порівняльна характеристика запропонованого та існуючих методів.
Предложен метод определения энергетического центра светового пятна с субпикселной точностью на основе сдвига многоэлементного фотоприемного устройства. Проведены экспериментальные исследования, которые подтверждают эффективность метода, а также дана сравнительная характеристика предложенного и существующих методов. The method for determination of the dispersion spot with sub-pixel accuracy based on displacement of multi-unit photodetector is proposed. Experimental research were carried out, which confirm the efficiency of the method, the comparative analysis of existent methods with proposed method was performed. |
|
| Date |
2016-01-26T14:26:41Z
2016-01-26T14:26:41Z 2010-11-12 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Білинський Й. Й. Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці [Текст] / Й. Й. Білинський, О. Г. Тарасюк, В. Й. Білинський // Вісник Вінницького політехнічного інституту. - 2007. - № 6. - С. 8-10.
1997-9274 1997-9266 http://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/526 http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/5752 681.785 |
|
| Language |
uk_UA
|
|
| Publisher |
ВНТУ
|
|