Особливості формування компонентних структур тестування для систем внутрішньосхемного пошуку несправностей цифрових пристроїв
Репозитарій Вінницького Національного Технічного Університету
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Особливості формування компонентних структур тестування для систем внутрішньосхемного пошуку несправностей цифрових пристроїв
Features of formation of component structures in-circuit test systems for fails of digital devices Особенности формирования компонентных структур тестирования для систем внутрисхемного поиска неисправностей цифровых устройств |
|
| Creator |
Перевозніков, С. І.
Крупельницький, Л. В. Озеранський, В. С. |
|
| Description |
Проаналізовано особливості формування компонентних структур на основі міжфрагментних відносин схем цифрових пристроїв (ЦП). З’ясовано, що в процесі побудови підсхем тестування спостерігаються випадки наявності елементів з незадіяними зв’язками. Такі ситуації змушують прийняти рішення про повторне формування компонентів або включення таких елементів до складу кінцевої структури розбиття схеми ЦП. В статті розглянуто властивості гіперграфів, як моделей компонентних структур, розроблено механізми інтеграції (деінтеграції) елементів з незадіяними зв’язками до складу кінцевої структури тестування. Запропоновано критерії оцінки таких можливостей для формування підструктур схем ЦП.
Проанализированы особенности формирования компонентных структур на основе межфрагментных отношений схем цифровых устройств (ЦУ). Выяснено, что в процессе построения подсхем тестирования наблюдаются случаи наличия элементов с незадействованными связями. Такие ситуации заставляют принять решение о повторном формировании компонентов или включении таких элементов в состав конечной структуры разбиения схемы ЦУ. В статье рассмотренные свойства гиперграфов, как моделей компонентных структур, разработаны механизмы интеграции (деинтеграции) элементов с незадействованными связями в состав конечной структуры тестирования. Предложены критерии оценки таких возможностей для формирования подструктур схем ЦП. This paper analyzes the features of formation of component-based structures relations of fragments of schemes for digital devices. It was found that in the process of constructing subcircuits test cases with elements of idle connections are observed. Such situation makes a decision on re-formation of the inclusion of such components or elements of the final structure of the scheme partition. Properties of hypergraphs, as the models of component structures are considered in the article The article elaborated the mechanisms of integration (deintegration) of elements with idle connections in the final structure of the test. The criteria of estimation of such possibilities for forming of sub-structures of CPU charts are suggested in the paper. |
|
| Date |
2016-01-26T16:27:48Z
2016-01-26T16:27:48Z 2010-11-12 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Перевозніков С. І. Особливості формування компонентних структур тестування для систем внутрішньосхемного пошуку несправностей цифрових пристроїв [Текст] / С. І. Перевозніков, Л. В. Крупельницький, В. С. Озеранський // Вісник Вінницького політехнічного інституту. - 2012. - № 5. - С. 81-85.
1997-9274 1997-9266 http://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/1310 http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/6786 518.681 |
|
| Language |
uk_UA
|
|
| Publisher |
ВНТУ
|
|