Методи і засоби вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структур
Репозитарій Вінницького Національного Технічного Університету
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Методи і засоби вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структур
|
|
Creator |
Гаврілов, Д. В.
Філинюк, М. А. Ліщенко, С. А. |
|
Subject |
транзистор
чотириполючник від'ємний опір вимірювання коефіцієнт підсилення повний опір |
|
Description |
Розглядаються методи вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структур.
|
|
Date |
2016-02-19T16:54:37Z
2016-02-19T16:54:37Z 2002 |
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
—
Гаврілов Д. В. Методи і засоби вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структур [Текст] / Д. В. Гаврілов, С. А. Ліщенко, М. А. філинюк // Вісник ЖІТІ. Серія "Технічні науки". - 2002. - Спец. вип. - С. 6-10. http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/8483 621.317 |
|
Language |
uk_UA
|
|
Relation |
Технічні науки
|
|
Publisher |
Житомирський інженерно-технологічний інститут
|
|