Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности
|
|
| Creator |
Евич, Н.Л.
Прокопенко, Ю.В. |
|
| Subject |
Прикладные аспекты радиофизики и электроники
|
|
| Description |
Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя Розглядаються можливості мікрохвильової метрології міліметрового діапазону електромагнітних хвиль для визначення товщини плоских шарів із діелектричних немагнітних матеріалів, що знаходяться на металевій підкладці або у вільному просторі. Як випромінювач використовується двоплечовий короткозамкнений відрізок діелектричного хвилеводу та електродинамічно пов’язана з ним діелектрична пластина. Possibilities of millimeter wavelength microwave metrology for determination of thicknesses of flat layers of nonmagnetic dielectric materials placed on a metal substrate or in free space are considered. As a radiator, a bilateral short-circuited fragment of dielectric waveguide with interconnecting dielectric plate is used. Error estimates in determination of layer thickness and permittivity are given. |
|
| Date |
2016-04-10T13:49:13Z
2016-04-10T13:49:13Z 2010 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Микроволновой метод определения толщин диэлектрических
материалов с использованием излучателя со сканированием
диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.
1027-9636 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98189 621.371 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Радиофизика и радиоастрономия
|
|
| Publisher |
Радіоастрономічний інститут НАН України
|
|