Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
|
|
| Creator |
Удовицкий, В.Г.
|
|
| Description |
Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при их длительном хранении, а также после многократных термообработок. Высказано предположение о возможности двухфазного состава пленок (одновременном существовании в них двух полиморфных модификаций), которое хорошо согласуется с наблюдаемыми особенностями дифрактограмм, а также экспериментальными результатами, опубликованными другими авторами. Наводяться результати рентгенівських досліджень кристалічної структури тонких плівок органічного напівпровідника – дибензотетрааза[14]анулену, конденсованих на не підігріті аморфні підкладки. Встановлено, що досконала текстура, яка спостерігається в плівках, залишається незмінною при їхньому тривалому зберіганні, а також після багаторазових термообробок. Висловлено припущення про можливість двохфазного складу плівок (одночасного існування в них двох поліморфних модифікацій), яке добре узгоджується з особливостями дифрактограм, а також експериментальними результатами, опублікованими іншими авторами. The results of X-ray crystal structure investigation of organic semiconductor – dibenzotetraaza[14]annulene as thin films are given. The thin films were deposited on unheated amorphous substrates by vacuum condensation. It is established that the films had high structural order (texture) which is stable during long-term preservation and also under repeated thermal treatment. Polymorphic structure (presence of two polymorphic modifications) for the films is assumed. The assumption has a good agreement with X-ray diffractogram peculiarities and experimental results published by other authors. |
|
| Date |
2016-04-14T17:28:43Z
2016-04-14T17:28:43Z 2003 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена / В.Г. Удовицкий // Физическая инженерия поверхности. — 2003. — Т. 1, № 3-4. — С. 310–315. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.
1999-8074 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98449 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Физическая инженерия поверхности
|
|
| Publisher |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
|
|