Запис Детальніше

Плазменное травление гетероструктур на основе нитрида галлия при изготовлении оптоэлектронных устройств

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Плазменное травление гетероструктур на основе нитрида галлия при изготовлении оптоэлектронных устройств
 
Creator Дудин, С.В.
 
Description Отработаны технологические режимы анизотропного травления многослойных структур на
базе GaN для нужд современной оптоэлектроники с использованием комбинированного
индукционно-емкостного разряда в смеси метана с водородом. Получена скорость травления
до 100 нм/мин и селективность относительно SiO₂ на уровне 6:1, что демонстрирует пригодность
данной технологии для использования в производстве белых светодиодов. Травление
проводится без использования агрессивных соединений, которые содержат хлор и фтор.
Відпрацьовано технологічні режими анізотропного травління багатошарових структур на базі
GaN для потреб сучасної оптоелектроніки з використанням комбінованого індукційно-ємнісного
розряду в суміші метану з воднем. Отримано швидкість травління до 100 нм/хв і селективність відносно SiO₂ на рівні 6:1, що демонструє придатність даної технології для використання у виробництві білих світлодіодів. Травління проводиться
без використання агресивних сполук, які містять
хлор і фтор.
Technological regimes of anisotropic etching of
multilayer GaN-based structures for needs of modern
optoelectronics have been developed with use of
combined ICP reactor with RF bias in methanehydrogen
mixture. Etch rate up to 100 nanometers/
mines have been reached along with selectivity of 6:1
against SiO₂, that shows suitability of the given
technology for use in manufacture of white lightemitting
diodes. Etching is carried out without use of
aggressive gases containing chlorine and a fluorine.
 
Date 2016-04-17T19:15:35Z
2016-04-17T19:15:35Z
2006
 
Type Article
 
Identifier Плазменное травление гетероструктур на основе нитрида галлия при изготовлении оптоэлектронных устройств / С.В. Дудин // Физическая инженерия поверхности. — 2006. — Т. 4, № 1-2. — С. 117–123. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
1999-8074
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98790
539.198
 
Language ru
 
Relation Физическая инженерия поверхности
 
Publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України