Относительная чувствительность рентгенотелевизионных систем на основе высокочувствительных ПЗС-камер и рентгеновских монокристаллических экранов
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Относительная чувствительность рентгенотелевизионных систем на основе высокочувствительных ПЗС-камер и рентгеновских монокристаллических экранов
|
|
| Creator |
Белый, Н.Г.
Денбновецкий, С.В. Лещишин, А.В. Михайлов, С.Р. Слободян, Н.В. Троицкий, В.А. |
|
| Subject |
Неразрушающий контроль
|
|
| Description |
Приведены теоретические и экспериментальные исследования рентгенотелевизионных систем на основе рентгеновского монокристаллического экрана из материала CsI(Tl) и телевизионных камер с использованием высокочувствительных ПЗС-матриц с микролинзовым массивом на поверхности (матрицы EXviev HAD) фирмы «Sony».
Given are the theoretical and experimental studies of X-ray TV systems based on X-ray single-crystal screen from CsI (T1) material and TV cameras using highly-sensitive CCD matrices with a microlens array on the surface (EXvie HAD matrices) of Sony Company. Рентгенотелевизионные |
|
| Date |
2016-06-14T17:57:22Z
2016-06-14T17:57:22Z 2007 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Относительная чувствительность рентгенотелевизионных систем на основе высокочувствительных ПЗС-камер и рентгеновских монокристаллических экранов / Н,Г. Белый, С.В. Денбновецкий, А.В. Лещишин, С.Р. Михайлов, Н.В. Слободян, В.А. Троицкий // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2007. — № 2. — С. 34-40. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.
0235-3474 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/103217 621.19.14 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Техническая диагностика и неразрушающий контроль
|
|
| Publisher |
Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України
|
|