Запис Детальніше

Формирование никель-платинового силицидного слоя в качестве барьерного для диода Шоттки

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Формирование никель-платинового силицидного слоя в качестве барьерного для диода Шоттки
 
Creator Кучинский, П.В.
Комаров, Ф.Ф.
Мильчанин, О.В.
Ковалева, Т.Б.
Солодуха, В.А.
Турцевич, А.С.
Соловьев, Я.А.
Гапоненко, С.В.
 
Description Предложен новый метод формирования барьера Шоттки, который включает магнетронное нанесение из многокомпонентной мишени, содержащей ванадий, платину и никель, тонкой пленки на кремнии с последующей ступенчатой термообработкой. С использованием данного метода изготовлены диоды Шоттки с высотой барьера 0,69—0,71 В. Установлено, что барьерный слой состоит из силицидной фазы Ni1-xPtxSi.
Запропоновано новий метод формування бар’єра Шоттки, який включає магнетронне нанесення з многокомпонентної мішені, що має в складі ванадій, платину та нікель, тонкої плівки на кремнії з наступною ступеневою термообробкою. З використанням данного методу виготовлено діоди Шоттки з высотою бар’єру 0,69—0,71 В. Встановлено, що бар’ерний шар складається з сіліцидної фази Ni1-xPtxSi.
A new method of forming a Schottky barrier, including a magnetron deposition of thin compound metal films (Pt, Ni and V) on silicon and a subsequent heat treatment step, was proposed. Using this method Schottky diodes were fabricated with a barrier height from 0,69 to 0,71 V. It was found that the barrier layer consists of Ni1-xPtxSi silicide phase.
 
Date 2016-06-28T21:08:52Z
2016-06-28T21:08:52Z
2014
 
Type Article
 
Identifier Формирование никель-платинового силицидного слоя в качестве барьерного для диода Шоттки / П.В. Кучинский, Ф.Ф. Комаров, О.В. Мильчанин, Т.Б. Ковалева, В.А. Солодуха, А.С. Турцевич, Я.А. Соловьев, С.В. Гапоненко // Электрические контакты и электроды. — К.: ИПМ НАН України, 2014. — С. 211-219. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.
2311-0627
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/104006
539.234,538.911,549.086,621.382.22
 
Language ru
 
Relation Электрические контакты и электроды
 
Publisher Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України