ЗАСТОСУВАННЯ СТАНДАРТІВ IEEE ДЛЯ ТЕСТУВАННЯ ПРОГРАМНО-ТЕХНІЧНИХ КОМПЛЕКСІВ
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Creator |
Хаханов, В. І.
Елісеєв, В. В. |
|
| Date |
2016-07-07T00:46:27Z
2016-07-07T00:46:27Z 2006 |
|
| Identifier |
Хаханов В. І. ЗАСТОСУВАННЯ СТАНДАРТІВ IEEE ДЛЯ ТЕСТУВАННЯ ПРОГРАМНО-ТЕХНІЧНИХ КОМПЛЕКСІВ / Хаханов В. І., Елісеєв В. В. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) -
1814-4225 http://hdl.handle.net/123456789/3237 |
|
| Description |
Предлагается подход к использованию IEEE стандартов тестирования для диагностирования сложныхиерархических программно-технических комплексов, относящихся к критическим технологиям. Используются различные ad-hoc решения тестирования систем на кристаллах. Предложен алгоритм тестирования программно-технических комплексов на различных уровнях иерархии.
|
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
|
|
| Relation |
УДК;681.3
|
|
| Subject |
System on Chip (SoC)
Network on Chip (NoC) IEEE стандарты ad-hoc технологии СTL |
|
| Title |
ЗАСТОСУВАННЯ СТАНДАРТІВ IEEE ДЛЯ ТЕСТУВАННЯ ПРОГРАМНО-ТЕХНІЧНИХ КОМПЛЕКСІВ
|
|
| Type |
Article
|
|