Запис Детальніше

ВБУДОВАНЕ ДІАГНОСТУВАННЯ ЦИФРОВИХ СИСТЕМ

Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Creator Хаханов, В. І.
Чумаченко, С. В.
Tiecoura, Yves
Галаган, С. С.
 
Date 2016-07-07T01:08:03Z
2016-07-07T01:08:03Z
2009
 
Identifier Хаханов В. І. ВБУДОВАНЕ ДІАГНОСТУВАННЯ ЦИФРОВИХ СИСТЕМ / Хаханов В. І., Чумаченко С. В. Tiecoura Yves, Галаган С. С. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2009
1814-4225
http://hdl.handle.net/123456789/3240
 
Description Рассмотрена проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем для нового конструктивного поколения – System-in-Package (SiP), которое постепенно осваивает рынок электронных технологий. Пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP-
функциональностей в реальном масштабе времени, который существенно отличается от процессов
встроенного диагностирования компонентов SoC (System on Chip)
 
Language ru
 
Publisher Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
 
Relation УДК;681.326:519.613
 
Subject дефект
восстановление работоспособности
матрица логических блоков
программируемая логика
 
Title ВБУДОВАНЕ ДІАГНОСТУВАННЯ ЦИФРОВИХ СИСТЕМ
 
Type Article