ПІДВИЩЕННЯ ЯКОСТІ ТЕСТУ НА ОСНОВІ МЕТОДУ АНАЛІЗУ ТЕСТОПРИГОДНОСТИ ПРИСТРОЇ НА РІЗНИХ РІВНЯХ ОПИСУ
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Creator |
Зайченко, С. А.
Каминская, М. А. |
|
| Date |
2016-07-07T01:40:10Z
2016-07-07T01:40:10Z 2007 |
|
| Identifier |
Зайченко С. А. ПІДВИЩЕННЯ ЯКОСТІ ТЕСТУ НА ОСНОВІ МЕТОДУ АНАЛІЗУ ТЕСТОПРИГОДНОСТИ ПРИСТРОЇ НА РІЗНИХ РІВНЯХ ОПИСУ / Зайченко С. А., Каминская М. А. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2007
1814-4225 http://hdl.handle.net/123456789/3247 |
|
| Description |
Предлагается метод анализа тестопригодности цифрового устройства, представленного на системном уровне в виде кода VHDL и трансформированого в ориентированный граф для упрощения задач верификации, синтеза тестов и/или улучшения покрытия неисправностей для заданных входных наборов. Метод основан на топологическом анализе синтезированного устройства и последующей его модификации путем разделения режимов работы (тестовый и функциональный) в целях улучшения тестопригодности и упрощения решения задач тестирования. |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
|
|
| Relation |
УДК;681. 326
|
|
| Subject |
тестопригодность
управляемость наблюдаемость путь сканирования детерминированный тест взвешенный тест |
|
| Title |
ПІДВИЩЕННЯ ЯКОСТІ ТЕСТУ НА ОСНОВІ МЕТОДУ АНАЛІЗУ ТЕСТОПРИГОДНОСТИ ПРИСТРОЇ НА РІЗНИХ РІВНЯХ ОПИСУ
|
|
| Type |
Article
|
|