Запис Детальніше

The main characteristics of SiGe HBTs at low temperatures

Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування.

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title The main characteristics of SiGe HBTs at low temperatures
Основные характеристики SiGe гетеропереходных биполярных транзисторов при низких температурах
Основні характеристики SiGe біполярних гетеротранзисторів за низьких температур
 
Creator Dvornikov, О. V.
Tchekhovski, V. А.
Dziatlau, V. L.
Prokopenko, N. N.
 
Subject
SiGe bipolar transistors; low temperatures; temperature of liquid nitrogen

SiGe биполярные транзисторы; низкие температуры; температура жидкого азота
621.382
SiGe біполярні транзистори; низькі температури; температура рідкого азоту
 
Description The current-voltage curves (CVC) of n-p-n SiGe heterojunction bipolar transistors (HBT) are considered within the temperature range from minus -195˚С up to 25˚С, produced on the SGB25V technology of IHP. The experimental setup, the measurement technique and the connection features of transistors for elimination of the self-excitation are described. The special attention is paid to the temperature dependences of the static base current gain βF in the common-emitter configuration (CEC) and to the output CVC characteristics of transistor in the CEC.
Рассмотрены вольтамперные характеристики (ВАХ) n-p-n SiGe биполярных транзисторов (БТ) в диапазоне температур от минус 195˚С до 25˚С, изготовленных по технологическому маршруту SGB25V фирмы IHP. Описана экспериментальная установка, методика измерений и особенности включения транзисторов для устранения эффекта самовозбуждения. Особое внимание уделено температурным зависимостям статического коэффициента усиления тока базы в схеме с общим эмиттером (ОЭ) βF и выходной ВАХ транзистора в схеме ОЭ.
Розглянуті вольт-амперні характеристики (ВАХ) n-p-n SiGe біполярних транзисторів (БТ) в діапазоні температур від мінус 195˚С до 25˚С, що виготовлені по технологічному маршруту SGB25V фірми IHP. Описана експериментальна установка, методика вимірювань і особливості ввімкнення транзисторів для усунення ефекту самозбудження. Особливу увагу приділено температурним залежностям статичного коефіцієнту підсилення струму бази в схемі з спільним емітером βF і вихідної ВАХ транзистора в схемі з спільним емітером.
 
Publisher НТУУ "КПІ"
 
Contributor The research is carried out at the expense of the Grant of the Russian Science Foundation (project № 16-19-00122).


 
Date 2016-09-30
 
Type info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion



 
Identifier http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/1340
 
Source BULLETIN of National Technical University of Ukraine. Series RADIOTECHNIQUE. RADIOAPPARATUS BUILDING; № 66 (2016)
Вестник НТУУ "КПИ". Серия Радиотехника, Радиоаппаратостроение; № 66 (2016)
Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування; № 66 (2016)
2310-0389
2310-0397
 
Language en
 
Rights ##submission.copyrightStatement##