Запис Детальніше

Низькотемпературна рідиннофазна епітаксія p-Si шарів в складі p-i-n Si високовольтних структур

Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Низькотемпературна рідиннофазна епітаксія p-Si шарів в складі p-i-n Si високовольтних структур
Low-temperature liquid-phase epitaxy of p-Si layers in composition of p-i-n Si high-voltage structures
 
Creator Ваків, М. М.
Круковський, С. І.
Тимчишин, В. Р.
 
Subject сильно леговані шари
епітаксіальні структури
висока підстава
відчутний опір
liquid-phase epitaxy
heavily doped layers
epitaxial structures
the high substrate
resistivity
 
Description Досліджено, що в галієвих розчинах із вмістом алюмінію ≈ 0,2 ваг. % забезпечується найкраща морфологія травленої поверхні кремнієвих підкладок. Показано, що додавання алюмінію від 0 до 1,6 ваг. % у галієвий розплав забезпечує можливість кристалізації сильно легованих шарів кремнію р-типу провідності в температурному інтервалі 750–650 ºС. It is investigated, that the best chemical etching morphology of silicon substrate is
provided in gallium melts with content of aluminium ≈ 0,2 weight %. It is shown that extension of aluminium from 0 to 1,6 weight % into gallium melt provides crystallization capability of heavily doped silicon layers of p-type conductivity at 750–650 ºС temperature range.
 
Date 2012-02-20T13:58:18Z
2012-02-20T13:58:18Z
2011
 
Type Article
 
Identifier Ваків М. М. Низькотемпературна рідиннофазна епітаксія p-Si шарів в складі p-i-n Si високовольтних структур / М. М. Ваків, С. І. Круковський, В. Р. Тимчишин // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2011. – № 708 : Електроніка. – С. 50–54. – Бібліографія: 4 назви.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/11525
 
Language ua
 
Publisher Видавництво Львівської політехніки