Запис Детальніше

Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
 
Creator Жарков, И.П.
Иващенко, А.Н.
Руденко, Э.М.
Короташ, И.В.
Краковный, А.А.
Сафронов, В.В.
Ходунов, В.А.
Руденко, А.Э.
 
Subject Наукові основи інноваційної діяльності
 
Description Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной
криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами.
Розроблено новий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії з мінімальними тепловими шумами й збільшеним відношенням сигнал/шум, в якому
використано азотний заливний кріостат, що переміщається, із вмонтованими в нього активними мікрохвильовими елементами.
The new device for microwave non-destructive defectoscopy
with minimum thermal noises and increased signal /
noise ratio, which used scanning nitrogen filled cryostat
with integrated active microwave elements, is designed.
 
Date 2017-03-06T14:48:07Z
2017-03-06T14:48:07Z
2013
 
Type Article
 
Identifier Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
1815-2066
DOI: doi.org/10.15407/scin9.03.013
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114309
 
Language ru
 
Relation Наука та інновації
 
Publisher Видавничий дім "Академперіодика" НАН України