Запис Детальніше

Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices
 
Creator Daweritz, L.
Grahn, H.
Hey, R.
Jenichen, B.
Ploog, K.
Korbutyak, D.
Krylyuk, S.
Kryuchenko, Yu.
Litovchenko, V.
 
Description GaAs/AlAs supelattices with corrugated interfaces have been investigated by the polarized photoluminescence method. Using the theoretical approach, which associates the linear polarization of exciton photoluminescence with the corrugation parameters, experimental results have been fitted to determine the height and lateral extension of corrugations.
Методом поляризованої фотолюмінесценції досліджені надгратки GaAs/AlAs з коругованими гетеромережами. Співставляючи експериментальні результати з теоретичними розрахунками на основі моделі, яка пов'язує ступінь лінійної поляризації екситонної фотолюмінесценції з параметрами коругованостей, визначені висота та латеральна протяжність коругованостей.
Методом поляризованной фотолюминесценции исследованы сверхрешетки GaAs/AlAs с корругированными гетерограницами. Путем сравнения експериментальных результатов с теоретическими расчетами, базирующимися на модели, которая связывает степень линейной поляризации экситонной фотолюминесценции з параметрами корругованностей, определены высота и латеральная протяженность корругованностей.
 
Date 2017-03-11T16:09:34Z
2017-03-11T16:09:34Z
1998
 
Type Article
 
Identifier Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices / L. Daweritz, H. Grahn, R. Hey, B. Jenichen, K. Ploog, D. Korbutyak, S. Krylyuk, Yu. Kryuchenko, V. Litovchenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 45-49. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.
1560-8034
PACS 68.65.
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114668
621.315
 
Language en
 
Relation Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
 
Publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України