Запис Детальніше

Влияние трансформации индикатрисы рассеивания света на измеряемое значение коэффициента поглощения пленки фотолюминофорной суспензии

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Влияние трансформации индикатрисы рассеивания света на измеряемое значение коэффициента поглощения пленки фотолюминофорной суспензии
 
Creator Хмиль, Д.Н.
Камуз, А.М.
Олексенко, П.Ф.
Камуз, В.Г.
Алексенко, Н.Г.
Камуз, О.А.
 
Description Проанализировано влияние трансформации индикатрисы рассеяния света на коэффициент поглощения (КП) композитной пленки фотолюминофорной суспензии. Экспериментально показано, что при использовании закона Бугера–Ламберта для определения КП пленки мутной среды необходимо учитывать трансформацию индикатрисы рассеяния света. Разработан метод прямого измерения коэффициента поглощения (метод двух толщин) и определены условия, которые необходимо удовлетворять при его использовании.
The effect of the transformation of the light scattering indicatrix on the magnitude of the absorption coefficient (AC) of phosphor slurry composite film has been analyzed. It is shown experimentally that when using the Bouguer Lambert law for determining the AC film of turbid medium it is necessary to take into consideration the transformation of the light scattering indicatrix. A method for direct measurement of the absorption coefficient (the method of two thicknesses) has been developed, and the conditions, which are necessary while using this method, have been determined.
 
Date 2017-05-13T20:40:50Z
2017-05-13T20:40:50Z
2011
 
Type Article
 
Identifier Влияние трансформации индикатрисы рассеивания света на измеряемое значение коэффициента поглощения пленки фотолюминофорной суспензии / Д.Н. Хмиль, А.М. Камуз, П.Ф. Олексенко, В.Г. Камуз, Н.Г. Алексенко, О.А. Камуз // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2011. — Вип. 46. — С. 81-87. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
0233-7577
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116701
535.341.08
 
Language ru
 
Relation Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
 
Publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України