Current states in an SNS junction for arbitrary thickness of the normal layer at temperatures close to critical
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Current states in an SNS junction for arbitrary thickness of the normal layer at temperatures close to critical
|
|
| Creator |
Sakhnyuk, V.E.
Svidzinsky, A.V. |
|
| Description |
The behavior of the order parameter close to the superconductor-normal metal interface is researched. The thickness d of the normal layer is arbitrary and the temperature is close to critical. The method of quasiorthogonality to asymptotics is used to obtain boundary conditions. The expression that describes the dependence of the current states on the normal layer’s thickness is obtained. Asymptotic forms of solution at large and at small d (relatively to the coherence length) are considered. Досліджено поведінку параметра порядку поблизу границі розділу нормального металу та надпровідника. Товщина d нормального металу вважається довільною, а температура близькою до критичної. Для одержання граничних умов використано метод квазіортогональності до асимптотики. Отримано залежність виразу для струму від товщини нормального прошарку, а також розглянуті його асимптотичні форми при великих і малих d в порівнянні з довжиною когерентності £₀ . |
|
| Date |
2017-06-12T17:19:57Z
2017-06-12T17:19:57Z 2003 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Current states in an SNS junction for
arbitrary thickness of the normal layer
at temperatures close to critical / V.E. Sakhnyuk, A.V. Svidzinsky // Condensed Matter Physics. — 2003. — Т. 6, № 1(33). — С. 159-167. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.
1607-324X PACS: 74.50.+r DOI:10.5488/CMP.6.1.159 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120692 |
|
| Language |
en
|
|
| Relation |
Condensed Matter Physics
|
|
| Publisher |
Інститут фізики конденсованих систем НАН України
|
|