Модель накопичення пошкоджень інтегральними елементами інформаційних систем при поліімпульсному впливі наносекундної тривалості
Наукові видання Харківського національного університету Повітряних Сил
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Модель накопичення пошкоджень інтегральними елементами інформаційних систем при поліімпульсному впливі наносекундної тривалості
Модель накопления повреждений интегральными элементами информационных систем при полиимпульсном воздействии наносекундной длительности Damage accumulation model by information system integrated elements under the impact of nanosecond width polyimpulse |
|
| Creator |
Д.Б. Кучер
Л.В. Литвиненко Н.Б. Смиринська Д.Б. Кучер Л.В. Литвиненко Н.Б. Смиринская D. Kucher L. Litvinenko N. Smуrуnska |
|
| Subject |
Обробка інформації в складних технічних системах
УДК 621.396.6 потужні електромагнітні випромінювання, поліімпульсний вплив, інтегральні мікросхеми, деградаційні ефекти, модель накопичення пошкоджень мощные электромагнитные излучения, полиимпульсное воздействие, интегральные микросхемы, деградационные эффекты, модель накопления повреждений powerful electromagnetic radiation, polyimpulse impact, integrated circuits, degradation effects, damage accumulation model |
|
| Description |
В статті розглядається вплив послідовності імпульсних випромінювань наносекундної тривалості на чутливі елементи приймального тракту інформаційних систем. Отримано залежність, що дозволяє визначити максимальну кількість енергії, розсіяної в напівпровідникових структурах, при впливі n-ї кількості імпульсів.
В статье рассматривается воздействие последовательности импульсных излучений наносекундной длительности на чувствительные элементы приемного тракта информационных систем. Получена зависимость, позволяющая определить максимальное количество энергии, рассеянной в полупроводниковых структурах, при воздействии n-го количества импульсов. There are studied and displayed the sequence impact of nanosecond width pulse radiations according to the sensitive elements of the information system receiving path. The received dependence gives the possibility to determine the maximum amount of energy scattered in semiconductor structures under the impact of the n-th number of pulses. |
|
| Publisher |
Харківський національний університет Повітряних Сил ім. І. Кожедуба
Харьковский национальный университет Воздушных Сил им. И. Кожедуба Kharkiv national Air Force University named after I. Kozhedub |
|
| Date |
2017
|
|
| Type |
info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion Рецензована стаття |
|
| Format |
application/pdf
|
|
| Identifier |
http://www.hups.mil.gov.ua/periodic-app/article/17647
|
|
| Source |
Системи обробки інформації. — 2017. — № 4(150). 11-15
Системы обработки информации. — 2017. — № 4(150). 11-15 Information Processing Systems. — 2017. — № 4(150). 11-15 1681-7710 |
|
| Language |
ukr
|
|
| Relation |
http://www.hups.mil.gov.ua/periodic-app/article/17647/soi_2017_4_4.pdf
|
|