Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне
Електронний архів E-archive DonNTU – (Electronic archive Donetsk National Technical University)
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне
Parallel Test Generation for MOS-structures on switch level |
|
Creator |
Андрюхин, А.И.
|
|
Subject |
цифровое моделирование
переключательный уровень параллельная генерация тестов parallel test generation switch-level digital simulation |
|
Description |
А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method Рассматривается параллельный метод генерации тестов на переключательном уровне. Представлены экспериментальные результаты эффективности предложенного метода для схем списка Iscas-89 |
|
Date |
2011-12-05T13:02:14Z
2011-12-05T13:02:14Z 2010 |
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне / Андрюхин А.И.//Научные труды ДонНТУ. Серия «Информатика, кибернетика и вычислительная техника». – 2010. – Вып. 11(164). – С. 75-79
004.051-054 http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/2840 |
|
Relation |
Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка;11
|
|
Publisher |
ДВНЗ «ДонНТУ»
|
|