Запис Детальніше

Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне

Електронний архів E-archive DonNTU – (Electronic archive Donetsk National Technical University)

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне
Parallel Test Generation for MOS-structures on switch level
 
Creator Андрюхин, А.И.
 
Subject цифровое моделирование
переключательный уровень
параллельная генерация тестов
parallel test generation switch-level digital simulation
 
Description А method for pseudo-random test generation on switch level is described.
Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of
the proposed method
Рассматривается параллельный метод генерации тестов на переключательном
уровне. Представлены экспериментальные результаты эффективности предложенного
метода для схем списка Iscas-89
 
Date 2011-12-05T13:02:14Z
2011-12-05T13:02:14Z
2010
 
Type Article
 
Identifier Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне / Андрюхин А.И.//Научные труды ДонНТУ. Серия «Информатика, кибернетика и вычислительная техника». – 2010. – Вып. 11(164). – С. 75-79
004.051-054
http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/2840
 
Relation Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка;11
 
Publisher ДВНЗ «ДонНТУ»