Запис Детальніше

Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур

Електронний архів E-archive DonNTU – (Electronic archive Donetsk National Technical University)

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур
Switching simulation and diagnosis of the basic model faults of CMOS structures
 
Creator Андрюхин, А.И.
 
Subject дефект
МОП-схема
переключательный анализ
МОП-структура
BGP
fault
MOS- scheme
switching analysis
MOS- structure
 
Description Представлен обзор основных дефектов МОП-схем. Рассматриваются примеры переключательного анализа МОП-структур. Представлена важность BGP для моделирования неисправностей МОП-структур на современном этапе.
Review of fault models is presented in the first part of article. Examples of the switching
analysis of MOS structures are considered. The importance of BGP to simulate faults of MOS
structures at the present stage is presented.
 
Date 18.06.2011
2012-01-16T09:30:49Z
2012-01-16T09:30:49Z
2011-06-18
 
Type Article
 
Identifier А.И. Андрюхин. Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур // Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 13 (185), Донецк, ДонНТУ, 2011. – С. 54-65.
ISSN 1996-1588
http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4124
 
Publisher Донецкий национальный технический университет