Запис Детальніше

ПАРАЛЛЕЛЬНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ НЕИСПРАВНОСТЕЙ МОП-СТРУКТУР

Електронний архів E-archive DonNTU – (Electronic archive Donetsk National Technical University)

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title ПАРАЛЛЕЛЬНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ НЕИСПРАВНОСТЕЙ МОП-СТРУКТУР
 
Creator Андрюхин, А.И.
 
Description Data structures
transformations of the healthy MOS-scheme for simulation of thefaults such as source-drain
short-circuiting, gate open-circuiting are consider. The transistors which are added into the
healthy device to simulate the different kind faults are described. The simulation of the
healthy circuit and the circuits with these types of faults reduces to the simulation of the
circuit with the added transistors with nonactive(active) gates of those transistors. The logic
many-valued simulation of MOS-schemes is surveyed with the use of parallel iterative method
X=M&FQQ, where X is the vector of signals in the circuit nodes, M is the operator lub, and
Fsymbolizes the parallel computations associated with Boolean equations.
 
Date 2012-01-22T12:32:14Z
2012-01-22T12:32:14Z
2001
 
Type Article
 
Identifier Наукові праці Донецького національного технічного університету. Серiя «Проблеми моделювання та автоматизації проектування» (МАП-2001). Випуск: 29 - Донецьк: ДонНТУ. - 2001. – 370 с.
2074-7888
http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4217
 
Language other
 
Relation Проблеми моделювання та автоматизації проектування;
 
Publisher Донецький національний технічний університет