Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне
Електронний архів E-archive DonNTU – (Electronic archive Donetsk National Technical University)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне
Test Generation for MOS-structures on switch level |
|
| Creator |
Андрюхин, А.И.
|
|
| Subject |
генерация тестов
МОП-структура дефекты МОП-схем |
|
| Description |
А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method. |
|
| Date |
2012-02-27T10:04:24Z
2012-02-27T10:04:24Z 2008-07-04 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Андрюхин А.И. Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне// Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 9 (132), Донецк, ДонНТУ, 2008. – С.195-202.
1996-1588 http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/5830 |
|
| Publisher |
Донецкий национальный технический университет
|
|