ОБЗОР МЕТОДОВ ТЕСТИРОВАНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ «ОБРЫВ ТРАНЗИСТОРА» В МОП-СХЕМАХ
Електронний архів E-archive DonNTU – (Electronic archive Donetsk National Technical University)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
ОБЗОР МЕТОДОВ ТЕСТИРОВАНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ «ОБРЫВ ТРАНЗИСТОРА» В МОП-СХЕМАХ
Methods of the Diagnosis of Open Defects in MOS -circuits |
|
| Creator |
Андрюхин, А.И.
Andruckin, A.I. |
|
| Subject |
MOS -circuits
Open Defects МОП-схема обрыв транзистора неисправность diagnosis |
|
| Description |
The rewiew of the articles on diagnosis of MOS Open Defects t is submitted
|
|
| Date |
2012-11-06T07:05:17Z
2012-11-06T07:05:17Z 2005 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 93, Донецк, ДонНТУ, 2005
http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15796 |
|
| Publisher |
ДонНТУ
|
|