ДЕТЕРМИНИРОВАНАЯ ОЦЕНКА ДЛИНЫ ПСЕВДОСЛУЧАЙНОГО ТЕСТА ОЗУ
Електронний архів E-archive DonNTU – (Electronic archive Donetsk National Technical University)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
ДЕТЕРМИНИРОВАНАЯ ОЦЕНКА ДЛИНЫ ПСЕВДОСЛУЧАЙНОГО ТЕСТА ОЗУ
A deterministic technique for the calculation of the number of pseudorandom test patterns of RAM. |
|
| Creator |
Зинченко, Ю.Е.
Zinchenko, J. |
|
| Subject |
deterministic technique
model of Junctional faults functional faults of RAM тест ОЗУ детерминированная оценка длина |
|
| Description |
In the first part of the article a mathematical model of Junctional faults including static and[pattern - sensitive faults is described. In the second part the testability conditions of the functional faults of RAM for an arbitrary test are obtained. On the basis of these conditions the formulas for calculations of the number of pseudorandom test patterns of RAM providing 100% average faults are obtained. The results of faults modeling of RAM are presented.
|
|
| Date |
2012-11-08T12:25:51Z
2012-11-08T12:25:51Z 1997 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 1, Донецк, ДонНТУ, 1997
http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15860 |
|
| Publisher |
ДонНТУ
|
|