Запис Детальніше

КОМПАКТНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ НА ОСНОВЕ ЧЕТЫРЕХЗНАЧНОЙ ЛОГИКИ

Електронний архів E-archive DonNTU – (Electronic archive Donetsk National Technical University)

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title КОМПАКТНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ НА ОСНОВЕ ЧЕТЫРЕХЗНАЧНОЙ ЛОГИКИ
Compact testing on the basis four-valued logic.
 
Creator Дяченко, О.Н.
Герасимов, А.Н.
Djаchenko, O.N.
Gerasimov, A.N.
 
Subject linear shift
feedback registers
four-valued logic
компактное тестирование
четырехзначная логика
цифровые кругообороты
 
Description Problems on the using of linear shift feedback registers (LSFR) based on four-valued logic for compact testing digital circuits are considered. The algorithm for determination of primitive polynomials on GF(4) is suggested. A table of some primitive polynomials on GF(4) is presented. The advantages of LSFR GF(4) as compared with LSFR GF(2) is described The obtained results may be of use to self-testig circuit design, compact testing built-in testing of digital circuits on the basis two-valued as well as four-valued logic.
 
Date 2012-11-08T12:34:26Z
2012-11-08T12:34:26Z
1997
 
Type Article
 
Identifier Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 1, Донецк, ДонНТУ, 1997
http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15864
 
Publisher ДонНТУ