The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy
|
|
| Creator |
Skobtsov, V.Y.
Rakhman, Al Tal Abdel |
|
| Description |
The test generation method is designed for digital circuits with memory on the basis of distinguishing state pairs of good and fault devices. The multiple observation time test strategy, 16-valued alphabet and genetic algorithms are used. The proposed method permits to cover the faults that are not detected with traditional methods. It increases the fault coverage.
Для цифровых схем с памятью разработан метод построения тестов на основе различения пар состояний исправного и неисправного устройств. Применяется стратегия кратного наблюдения, 16-значный алфавит и генетические алгоритмы. Предложенный метод позволяет покрыть неисправности, являющиеся нетестируемыми традиционными методами. Это существенно повышает покрытие неисправностей. Для цифрових схем з пам’яттю розроблено метод побудови тестiв на базi розрiзнення пар станiв непошкодженого та пошкодженого пристроїв. Застосовано стратегiю кратного спостереження, 16-значний алфавiт та генетичнi алгоритми. Запропонований метод дозволяє покрити пошкодження, якi є нетестовними традицiйними методами. Це суттєво пiдвищує покриття пошкоджень. |
|
| Date |
2017-09-20T11:56:17Z
2017-09-20T11:56:17Z 2012 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy / V.Y. Skobtsov, Al Tal Abdel Rakhman // Труды Института прикладной математики и механики НАН Украины. — Донецьк: ІПММ НАН України, 2012. — Т. 25. — С. 210-216. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.
1683-4720 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/124131 681.518:681.326.7 |
|
| Language |
en
|
|
| Relation |
Труды Института прикладной математики и механики
|
|
| Publisher |
Інститут прикладної математики і механіки НАН України
|
|